XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品

簡要描述：XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品
奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩(wěn)定等優(yōu)點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術(shù)，可精確標定薄膜標樣的負載量。

產(chǎn)品型號：

所屬分類：MICROMATTER元素標準膜

更新時間：2024-10-24

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XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品

奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩(wěn)定等優(yōu)點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術(shù)，可精確標定薄膜標樣的負載量。

《HJ 830-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的工作曲線。

XRF薄膜標準樣品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五個負載量系列，其他負載量的產(chǎn)品可根據(jù)客戶實際需求定制。

可供應(yīng)的XRF薄膜標準樣品的元素如下（可在表格內(nèi)打√選擇樣品）：

元素

SL

VL

L

R

H

元素

SL

VL

L

R

H

Na (NaCl)

Co

Mg (MgF2)

Ni

Al

Cu

Si (SiO2)

Zn (ZnTe)

P (GaP)

As (GaAs)

S (CuSx)

Se

Cl (NaCl)

Sr (SrF2)

K (KCl)

Br (CsBr)

Ca (CaF2)

Cd (CdSe)

Sc (ScF3)

Ba (BaF2)

Ti

Pb

V

Sn

Cr

Sb

Mn

In

Fe

Mo

Ag

Hg (HgTe)

可提供超純鋁杯用于XRF測定大氣顆粒物的輔助設(shè)備，用以消除或減小合金材料樣品杯對樣品結(jié)果的影響；采用生態(tài)環(huán)境部標準樣品研究所提供的湖南重金屬污染標準土壤樣品，參考NIST 2783標樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品，可用于XRF分析方法的驗證以及XRF實驗室日常質(zhì)控工作。

XRF薄膜標準樣品的安裝形式：

1、 安裝環(huán)尺寸（厚度為1.5mm的亞克力玻璃）

圓形：

代碼

外徑(mm)

內(nèi)徑(mm)

25

25

17

32

32

25

36

36

29

47

47

39

推薦36號尺寸。

方形：

50x50mm方形尺寸，內(nèi)置?32mm的圓環(huán)，代碼50。

2、 支撐膜材料

代碼

支撐膜材料

備注

N

Nuclepore® polycarbonate

氣溶膠多孔膜

M6.3

6.3μm厚度麥拉膜(Mylar)

M3.5

3.5μm厚度麥拉膜(Mylar)

推薦M6.3型材料。

3、 鍍膜方式：

代碼

鍍膜位置排列

A

安裝環(huán)-元素膜-支撐膜

B

元素膜-支撐膜-安裝環(huán)

XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品